信號(hào)噪聲比
將模體放置在頭部診斷位置，并使模體水平放置于掃描野中心，然后送入磁體孔內(nèi)，并掃描出定位圖-如圖。用SE掃描序列,層厚10mm（沒(méi)有10mm層厚的，選用大層厚），按TR500ms，TE30ms， NEX2次，F(xiàn)OV250mm和256×256矩陣掃描條件（必要時(shí)可適當(dāng)改變TR、TE時(shí)間，以獲得更好的影像），對(duì)模體不同測(cè)量層面進(jìn)行單層掃描，必要時(shí)*行均場(chǎng)。在掃描出模體均勻性層面后在圖像中心信號(hào)區(qū)域和周圍背景區(qū)域分別測(cè)量感興趣區(qū)域（ROI）面積為100mm2的信號(hào)強(qiáng)度和標(biāo)準(zhǔn)偏差，由下計(jì)算出信號(hào)噪聲比（SNR）:
北京偉信楚華商貿(mào)有限責(zé)任公司
地址：海淀區(qū)二里莊5號(hào)樓102室
© 2026 版權(quán)所有：北京偉信楚華商貿(mào)有限責(zé)任公司 備案號(hào)：京ICP備06053975號(hào)-2 總訪問(wèn)量：177109 站點(diǎn)地圖 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸
